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代理日本品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、東機產業(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、索尼克(風速計、流量計等)、坂口電熱(加熱器、制冷片)、NEWKON新光(針孔機)、富士端子(各種形狀端子,料多可定制)、NS精密科學(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵)

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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 高分子相結構分析系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結構分析系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結構分析系統ELSZ-2000S
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Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統 陽離子和陰離子等不同的成分可以用一臺裝置進行分析。 用微量樣品可以進行短時間、高分辨率的分析。 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統Agilent 7100
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DRM-3000 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計 可以根據靜光散射法的重量平均分子量決定的dn / dc測量。 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000
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SLS-6500HL OTSUKA大冢- 靜態光散射光度計 可以測量使用靜光散射法的優良分子量、慣性半徑、**膽量系數。 OTSUKA大冢- 靜態光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態光散射光度計SLS-6500HL
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FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑 FPAR和自動取景器的組合中,關于50檢體的試料,可以進行粒子直徑的自動測量。 樣品量為1ml,可以使用廉價的電筒進行測量。 OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-100
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FPAR-1000 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統 從稀薄系到濃厚系,在廣泛的濃度區域中的粒子直徑測量 *適合分析膠體分散液和拉拉力的分散狀態。 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統FPAR-1000
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FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計 根據固體激光和高靈敏度檢測器(冷卻型光電子倍增管),可以測量0.5nm~5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布(粒徑·粒徑分布)。OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000
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DLS-6500series OTSUKA大冢- 動態光散射光度計 可測量使用動態光散射法的粒子直徑、粒子直徑分布(粒徑、粒徑分布)。 OTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-6500series
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000S
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nanoSAQLA OTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統nanoSAQLA
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DLS-8000series OTSUKA大冢- 動態光散射光度計 用動態光散射法的粒子直徑·粒子直徑分布(粒徑·粒徑分布)測量和使用靜光散射法的優良分子量·慣性半徑·**膽量系數的測量。OTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-8000seriesOTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-8000series
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 電位測量系統 OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000S