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它是一種單獨評估光源或光學材料光分布的設備。 實現10分鐘的測量時間,顛覆分布測量常識! 僅一次測量可捕獲每個空間照度! 支持其他公司的光學設計軟件處理的數據格式! 設備尺寸緊湊, 1.5平方米角落即可收納! 也可輸出通用IES格式的配光數據! 從光源的光分布測量到透鏡和薄膜等材料的光學特性,擁有廣泛的測量評估范圍。
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可以立即測量優良量子效率(優良量子產率)。與粉末,溶液,固體(薄膜)和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外線區域中的雜散光。另外,通過采用集成的半球單元,可以實現明亮的光學系統,并且通過利用此優勢的再激發熒光校正,可以執行高精度的測量。此外,QE-2100能夠測量量子效率的溫度依賴性,并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
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它是一種相位差測量設備,可支持所有類型的膜,例如OLED偏振片,層壓相位差膜和帶IPS液晶相位差膜的偏振片。 實現與超高Re.60000 nm兼容的高速,高精度測量。 可以“非破壞性地不剝離”地測定膜的層疊狀態。 此外,它配備了簡單的軟件和校正功能,可支持由于樣品重新定位而導致的未對準,從而實現了簡單而高度**的測量。
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“紫外光譜輻照度測量系統IL100”評估光源在紫外區域中的輻照度。 ?從分光光度計測量可高精度地測量照度? 從紫外線到可見光的測量波長范圍寬 ?可選擇適合于高斜入射特性等應用的照度頭·可 用于生物系統評估中不可缺少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區域也可以實現高精度測量的設備。